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產品詳情
  • 產品名稱:MDRCK有載開關參數測試儀

  • 產品型號:MDRCK
  • 產品廠商:其他
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  • 折扣價格:0
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簡單介紹:
MD-1有載開關參數測試儀是與變壓器回路連接的**運動部件,因此有載分接開關的檢測,越來越引起重視。在《電力設備交接和預防性試驗規程》中,要求檢查有載分接開關的動作順序,測量切換時間等。
詳情介紹:

MDrck有載開關(guan)參數測(ce)試儀


一、概述

有載(zai)分(fen)接(jie)開(kai)關(guan)(guan)是與變壓(ya)器回(hui)路(lu)連(lian)接(jie)的**運(yun)動(dong)部件,因此有載(zai)分(fen)接(jie)開(kai)關(guan)(guan)的檢測,越(yue)來越(yue)引(yin)起重視。在《電力設(she)備交接(jie)和預防性試驗規程》中(zhong),要(yao)求檢查有載(zai)分(fen)接(jie)開(kai)關(guan)(guan)的動(dong)作順序(xu),測量(liang)切換時(shi)間(jian)等。本(ben)變壓(ya)器有載(zai)分(fen)接(jie)開(kai)關(guan)(guan)參數(shu)測試儀器,主要(yao)用于測量(liang)變壓(ya)器有載(zai)分(fen)接(jie)開(kai)關(guan)(guan)的過(guo)渡(du)(du)波形(xing)、過(guo)渡(du)(du)時(shi)間(jian)、各瞬間(jian)過(guo)渡(du)(du)電阻值、三相同期性等。

儀器(qi)智能化程度高,全部中文菜單提(ti)示,操作(zuo)簡(jian)單。儀器(qi)體(ti)積小、重(zhong)量輕(qing)、抗干(gan)擾能力強(qiang),大(da)大(da)減輕(qing)了現場工作(zuo)人員的勞動強(qiang)度,是發、供電單位(wei),變壓器(qi)制造行業保障**生產,提(ti)高產品質量的理想儀器(qi)。

二、**措施

1、使用本儀器前(qian)一(yi)定要認(ren)真閱讀本手冊(ce)。

2、儀器的操作者(zhe)應具(ju)備一般電氣設備或儀器的使(shi)用常識。

3、本儀器戶內外均(jun)可(ke)使用,但應(ying)避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高溫、陽光(guang)直射(she)等場(chang)所。

4、儀器應避(bi)免劇烈振動。

5、對儀器的維修、護理和調整(zheng)應由(you)專業人(ren)員(yuan)進(jin)行。

6、在測(ce)試過程中,禁止(zhi)移動(dong)測(ce)試夾和供電(dian)線路。

三、性能特(te)點(dian)

1、儀器輸出電流(liu)大,重(zhong)量輕。

2、儀(yi)器輸(shu)出開(kai)路電(dian)壓(ya)28V,在1A檔(dang)的電(dian)流下可以(yi)測試(shi)10Ω的過渡電(dian)阻,并設有0.5A、0.3A檔(dang),方便測試(shi)更(geng)大的過渡電(dian)阻。

3、具有完善的(de)保(bao)護電路(lu),可(ke)靠性強。

4、立(li)式機箱結構,5.7寸的大液晶顯示,便于現場操作。

5、具有U盤存儲功(gong)能,可以存儲更多數據波(bo)形。

四、技術指標

1、輸(shu)出電流:1.0A、0.5A、0.3A、三檔可(ke)選。

2、電(dian)阻量程:1.0A檔(dang) 0.1~10Ω;0.5A檔(dang) 5~20Ω;0.3A檔(dang) 10~40Ω。

3、電阻(zu)測量精(jing)度(du):±(讀數×5%+5個字),分(fen)辨率:0.01Ω。

4、過渡時間(jian)測(ce)量范(fan)圍:1~250mS。

5、過渡(du)時(shi)間測量精度(du):±1mS,分辨率:0.1mS。

6、采樣頻(pin)率:10K。

7、存(cun)儲(chu)(chu)(chu)方式: U盤存(cun)儲(chu)(chu)(chu)、本機存(cun)儲(chu)(chu)(chu)。

8、工作溫度:-20℃~+50℃。

9、環境(jing)濕度:≤90%RH,無結(jie)露(lu)。

10、工作電源:AC220V±10%,50Hz±10%。

五、系統(tong)介紹

1、電(dian)源開關:整機電(dian)源輸入口,帶(dai)有交流插座,保險倉(cang)和開關。

2、U盤接口:外接U盤用(yong)。

3、232串口:串口通(tong)訊(xun)和裝置升(sheng)級用。

4、接地(di)柱:為整(zheng)機(ji)外(wai)殼接地(di)用。

5、電流輸出端(duan)子:Ia、Ib、Ic、Io分別對應(ying)變壓器(qi)的A、B、C、N。

6、電壓輸入端(duan)子:Ua、Ub、Uc、Uo分別對應變壓器(qi)的A、B、C、N。

7、顯示器:320×240點(dian)陣液晶顯示器。

8、打印機(ji)(ji):熱(re)敏(min)打印機(ji)(ji),打印測試結果(guo)。

9、按鍵(jian)(jian):操作裝(zhuang)(zhuang)置用。“復位”鍵(jian)(jian):使裝(zhuang)(zhuang)置整機(ji)復位,恢復到上電(dian)狀態;“↑↓”鍵(jian)(jian):移動光標(biao)(biao)或(huo)修改數據(在(zai)波形分析菜(cai)單中(zhong)為(wei)選(xuan)擇標(biao)(biao)尺);“←→”鍵(jian)(jian):選(xuan)擇移動(在(zai)波形分析菜(cai)單中(zhong)為(wei)標(biao)(biao)尺移動);“確(que)認”鍵(jian)(jian):確(que)認當前操作;“取消”鍵(jian)(jian):放棄當前操作。

六(liu)、測試與操作方法

操作時需注(zhu)意事(shi)項:

?使(shi)用前,儀(yi)器(qi)的(de)接地端子必須(xu)接好地線。

?測(ce)試過程(cheng)中(zhong),不允(yun)許拆除測(ce)試線。

 ?帶繞組(zu)測試(shi)時,變(bian)壓器的非(fei)測試(shi)端應三相短路(lu)接地(di)。

?如果選擇(ze)將(jiang)數(shu)據(ju)(ju)存儲至U盤(pan)或(huo)查詢U盤(pan)中的存儲數(shu)據(ju)(ju),請(qing)將(jiang)U盤(pan)插入(ru)“U盤(pan)接口”,并(bing)在向(xiang)U盤(pan)存儲或(huo)查詢數(shu)據(ju)(ju)過程中不允(yun)許拔掉U盤(pan)。

1、待(dai)機界面(mian)

儀器上電(dian)開(kai)機,動(dong)態顯(xian)示公司(si)圖標,停(ting)留數秒后進入待機界面(見圖2)。


此時顯(xian)示(shi)儀(yi)器型號(hao)名稱(cheng)(cheng)、系統運行時間、公司(si)名稱(cheng)(cheng)、儀(yi)器編號(hao)(此處顯(xian)示(shi)為示(shi)例),Ver(版本號(hao):儀(yi)器的軟(ruan)件版本號(hao))。

2、主菜單

在待機界面(mian)下按“確(que)認”鍵進入儀器“主菜單”(見(jian)圖3)。

3、參數設置

在主菜單下按(an)“↑↓”鍵(jian)選擇(ze)“參數(shu)設置”項(xiang),按(an)“確認”鍵(jian)進(jin)入(ru)“參數(shu)設置”菜單


按(an)“←→”鍵選(xuan)擇需(xu)要修改(gai)(gai)的參數選(xuan)項,按(an)“↑↓”鍵修改(gai)(gai)選(xuan)擇的參數。按(an)“確認(ren)”鍵確認(ren)當前(qian)設置(zhi)。按(an)“取(qu)消(xiao)”鍵放(fang)棄當前(qian)設置(zhi)。

?開(kai)關編(bian)號:為了(le)記錄(lu)方便,可為實驗(yan)的開(kai)關設(she)置(zhi)一(yi)個(ge)編(bian)號。

?測量方式(shi):分為有繞組,無繞組。

?分(fen) 接(jie) 位:實際開關的分(fen)接(jie)位,便于(yu)形成測(ce)試報(bao)告。按(an)“↑”鍵,分(fen)接(jie)位號由(you)低到高依次(ci)變化,如此(ci)時是(shi)“01-02”,按(an)“↑”鍵一次(ci)變為“02-03”,如此(ci)時是(shi)“02-01”,按(an)“↑”鍵一次(ci)變為“01-02”,依此(ci)類(lei)推;按(an)“↓”鍵則相(xiang)反。

?測試電(dian)(dian)流:選(xuan)擇(ze)輸出(chu)電(dian)(dian)流大小,有(you)1.0A、0.5A、0.3A三(san)檔可供選(xuan)擇(ze)。

?測試靈(ling)敏(min)(min)度(du):用來設置開關(guan)動(dong)(dong)作時的測試靈(ling)敏(min)(min)度(du),默認(ren)為10,如果(guo)測量(liang)時還沒啟(qi)動(dong)(dong)開關(guan)就顯(xian)示(shi)了(le)波形時,則為靈(ling)敏(min)(min)度(du)太高,提(ti)高“測試靈(ling)敏(min)(min)度(du)”的值來降(jiang)低(di)靈(ling)敏(min)(min)度(du),如果(guo)有載(zai)開關(guan)已經動(dong)(dong)作完畢,儀器還沒有觸發,則為靈(ling)敏(min)(min)度(du)太低(di),降(jiang)低(di)“測試靈(ling)敏(min)(min)度(du)”的值來提(ti)高靈(ling)敏(min)(min)度(du)。一般情(qing)況下默認(ren)值即可。

4、測量開關動態參數

在(zai)主菜單下按“↑↓”鍵選擇(ze)“測(ce)量開(kai)關動態參數”項,按“確認(ren)”鍵進入“測(ce)量開(kai)關

動(dong)態參數(shu)”菜單(dan)(見圖5)。(此菜單(dan)下“測試靈(ling)敏度”和“分接位(wei)”項是(shi)可以(yi)選擇(ze)修改的。分接位(wei)號(hao)隨著測量(liang)自動(dong)變化。)

(1)帶繞組測試(shi)方(fang)法

1)拆去被測(ce)(ce)變壓(ya)(ya)器(qi)(qi)的(de)三側(ce)引線(xian),將(jiang)(jiang)非測(ce)(ce)試(shi)(shi)端(通常為中壓(ya)(ya)側(ce)、低壓(ya)(ya)側(ce))分別(bie)(bie)三相短(duan)路接(jie)地。儀器(qi)(qi)在(zai)關(guan)機狀(zhuang)態(tai)下,將(jiang)(jiang)測(ce)(ce)試(shi)(shi)鉗(qian)黃、綠(lv)、紅、黑(hei)依次夾到被測(ce)(ce)變壓(ya)(ya)器(qi)(qi)的(de)調壓(ya)(ya)側(ce)(通常為高(gao)壓(ya)(ya)側(ce))套管的(de)A、B、C三相和中性(xing)點上,然后將(jiang)(jiang)測(ce)(ce)試(shi)(shi)線(xian)另一端的(de)一組黃、綠(lv)、紅、黑(hei)線(xian)分別(bie)(bie)接(jie)在(zai)儀器(qi)(qi)的(de)Ia、Ib、Ic、Io端子(zi)上;另一組黃、綠(lv)、紅、黑(hei)線(xian)分別(bie)(bie)接(jie)在(zai)儀器(qi)(qi)的(de)Ua、Ub、Uc、Uo端子(zi)上。

2)確認以上(shang)接線無誤(wu)后,開機,進行完參數(shu)設置后選擇進入“測量開關動態參數(shu)”菜單(dan)(見圖5)。

按(an)“←→”鍵(jian)(jian)選擇(ze)(ze)“分(fen)接(jie)位(wei)(wei)”或(huo)“測(ce)試靈敏(min)(min)度”。按(an)“↑↓”鍵(jian)(jian),更改“分(fen)接(jie)位(wei)(wei)”(更改方法和(he)“參數(shu)設置”菜單一樣)或(huo)“測(ce)試靈敏(min)(min)度”。此(ci)時(shi)(shi),中(zhong)間分(fen)別(bie)有三(san)組(zu)數(shu)據(ju)在(zai)變化。因為儀(yi)器對繞(rao)組(zu)和(he)開(kai)(kai)關有一個(ge)充電的(de)過(guo)程(cheng),所以(yi)(yi)數(shu)字會從(cong)大(da)到(dao)小變化,待三(san)相數(shu)值都(dou)穩定(ding)后,再按(an)“確認”鍵(jian)(jian),屏幕中(zhong)間顯(xian)示“可(ke)以(yi)(yi)啟(qi)動(dong)開(kai)(kai)關動(dong)作” (見圖(tu)6),此(ci)時(shi)(shi)可(ke)手動(dong)或(huo)電動(dong)操(cao)(cao)(cao)作開(kai)(kai)關(此(ci)時(shi)(shi)除“復位(wei)(wei)”鍵(jian)(jian)外,任何按(an)鍵(jian)(jian)不(bu)起作用(yong)(yong)),動(dong)作完畢后,液(ye)晶屏自(zi)動(dong)顯(xian)示出動(dong)作波(bo)(bo)形 (見圖(tu)7)。  在(zai)“動(dong)作波(bo)(bo)形”菜單下(xia)(xia),上面顯(xian)示的(de)是儀(yi)器自(zi)動(dong)計(ji)算(suan)出的(de)過(guo)渡(du)(du)電阻值,可(ke)供(gong)用(yong)(yong)戶參考,中(zhong)間從(cong)上到(dao)下(xia)(xia)三(san)個(ge)區(qu)域分(fen)別(bie)顯(xian)示的(de)是A、B、C三(san)相的(de)動(dong)作波(bo)(bo)形,波(bo)(bo)形的(de)右下(xia)(xia)角顯(xian)示的(de)是儀(yi)器自(zi)動(dong)計(ji)算(suan)的(de)過(guo)渡(du)(du)時(shi)(shi)間,可(ke)供(gong)用(yong)(yong)戶參考(如果有載(zai)開(kai)(kai)關不(bu)同期(qi),自(zi)動(dong)顯(xian)示的(de)過(guo)渡(du)(du)時(shi)(shi)間誤差較大(da),用(yong)(yong)戶應自(zi)行(xing)分(fen)析過(guo)渡(du)(du)時(shi)(shi)間和(he)過(guo)渡(du)(du)電阻)。*下(xia)(xia)部分(fen)顯(xian)示的(de)是操(cao)(cao)(cao)作菜單,此(ci)時(shi)(shi)可(ke)以(yi)(yi)按(an)“←→”鍵(jian)(jian)選續(xu)測(ce)量”、“波(bo)(bo)形分(fen)析”、“波(bo)(bo)形操(cao)(cao)(cao)作”、“波(bo)(bo)形存儲”、“波(bo)(bo)形打印(yin)”項,按(an)“確認”健(jian)進入相應選項。當(dang)選擇(ze)(ze)“繼續(xu)測(ce)量”后,儀(yi)器自(zi)動(dong)進入“測(ce)量開(kai)(kai)關動(dong)態參數(shu)(圖(tu)5)”項繼續(xu)進行(xing)測(ce)量。

在(zai)每條曲線(xian)(xian)下(xia)面(mian)有(you)一條水平直線(xian)(xian)是零(ling)電流線(xian)(xian),當切(qie)換(huan)(huan)(huan)過程中有(you)斷點時(shi),曲線(xian)(xian)將與零(ling)電流線(xian)(xian)重合。此時(shi)就(jiu)可以對所(suo)(suo)測的(de)波形和(he)數(shu)據(ju)(ju)進行分析和(he)處理(li)了(具體方(fang)法見“數(shu)據(ju)(ju)分析及處理(li)”)。對于M型和(he)T型開關,其切(qie)換(huan)(huan)(huan)開關總是在(zai)單雙(shuang)之間作往返動作,所(suo)(suo)以測一次單到(dao)雙(shuang)(如1-2),再測一次雙(shuang)到(dao)單(如2-3)即可。對于V型開關,它是復(fu)合式的(de),其動觸(chu)頭與每一分接(jie)位的(de)靜觸(chu)頭的(de)切(qie)換(huan)(huan)(huan)都不重復(fu),上行和(he)下(xia)行也(ye)有(you)區別,狀(zhuang)態也(ye)就(jiu)略有(you)差異。因此要從1分接(jie)位開始連續測完所(suo)(suo)有(you)分接(jie)位(1-n),再反向測完所(suo)(suo)有(you)分接(jie)位(n-1)。

3)數據分析及處理

?選(xuan)擇進入“波(bo)形(xing)分析”菜單

用戶(hu)自行分析波(bo)形的(de)過(guo)渡時(shi)間、過(guo)渡電阻(zu)值(zhi)、瞬(shun)時(shi)電阻(zu)值(zhi)、三相不同期性。在“波(bo)形分析”菜(cai)單下,按(an)“↑↓”鍵選擇標(biao)尺(chi)(chi),t1為(wei)(wei)左面的(de)標(biao)尺(chi)(chi),t2為(wei)(wei)右面的(de)標(biao)尺(chi)(chi)。按(an)“←→”鍵移動(dong)所選的(de)標(biao)尺(chi)(chi),兩(liang)標(biao)尺(chi)(chi)在移動(dong)過(guo)程中不能相互穿(chuan)越只能重合。*上面的(de)電阻(zu)值(zhi)為(wei)(wei)標(biao)尺(chi)(chi)之間的(de)平均電阻(zu)值(zhi)(兩(liang)標(biao)尺(chi)(chi)重合后為(wei)(wei)標(biao)尺(chi)(chi)所在位(wei)置的(de)瞬(shun)時(shi)電阻(zu)值(zhi)),*左下面的(de)ΔT為(wei)(wei)兩(liang)標(biao)尺(chi)(chi)之間的(de)時(shi)間,*下面的(de)電阻(zu)值(zhi)為(wei)(wei)t2標(biao)尺(chi)(chi)所在位(wei)置所指示的(de)瞬(shun)時(shi)電阻(zu)值(zhi)。

儀器可(ke)測量打(da)印(yin)(yin)出兩標(biao)(biao)尺(chi)(chi)間(jian)的(de)(de)(de)平(ping)均(jun)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)(在(zai)打(da)印(yin)(yin)菜單稱(cheng)為(wei)過(guo)渡電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi))的(de)(de)(de)功(gong)能。對于A相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)波形(xing),調整兩標(biao)(biao)尺(chi)(chi),使之(zhi)位(wei)于在(zai)波形(xing)中電(dian)(dian)(dian)流(liu)通過(guo)限流(liu)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)的(de)(de)(de)那(nei)一(yi)段(通常為(wei)*低點(dian)位(wei)置的(de)(de)(de)平(ping)滑處),這時(shi)*上方顯(xian)示的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)即(ji)為(wei)兩標(biao)(biao)尺(chi)(chi)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)平(ping)均(jun)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi),這時(shi)按“確(que)認“鍵,彈(dan)出打(da)印(yin)(yin)菜單,即(ji)可(ke)選(xuan)擇打(da)印(yin)(yin)A相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)過(guo)渡電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi);B相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)、C相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)和A相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)測量、打(da)印(yin)(yin)原(yuan)理相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)同。儀器可(ke)打(da)印(yin)(yin)出t2標(biao)(biao)尺(chi)(chi)所在(zai)位(wei)置的(de)(de)(de)瞬時(shi)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi),基(ji)本原(yuan)則是:要(yao)看哪一(yi)點(dian)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi),就把t2標(biao)(biao)尺(chi)(chi)移(yi)動到那(nei)一(yi)點(dian)。如想測量、打(da)印(yin)(yin)A相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)瞬時(shi)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi),可(ke)將t2標(biao)(biao)尺(chi)(chi)移(yi)動到想要(yao)測量的(de)(de)(de)位(wei)置,這時(shi)*下(xia)方顯(xian)示的(de)(de)(de)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)即(ji)為(wei)t2標(biao)(biao)尺(chi)(chi)所在(zai)位(wei)置的(de)(de)(de)瞬時(shi)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi),這時(shi)按“確(que)認“鍵,彈(dan)出打(da)印(yin)(yin)菜單,即(ji)可(ke)選(xuan)擇打(da)印(yin)(yin)A相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)瞬時(shi)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi);B相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)、C相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)和A相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)(de)測量、打(da)印(yin)(yin)原(yuan)理相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)同。當(dang)波形(xing)有(you)抖(dou)動時(shi),應(ying)盡可(ke)能找比較平(ping)直段。

測(ce)電阻(zu)時(shi)(shi)還應(ying)注意(yi),M型(xing)有(you)(you)一些是并聯雙斷口(kou)結構,這(zhe)時(shi)(shi)測(ce)試的(de)電阻(zu)值是銘牌標定值的(de)1/2。如用1A檔(dang)(dang)測(ce)量時(shi)(shi),當波形(xing)出現過零點(dian)且持續2ms以上時(shi)(shi),可換成0.5A檔(dang)(dang)或(huo)0.3A檔(dang)(dang)測(ce)。如果用0.5A檔(dang)(dang)或(huo)0.3A檔(dang)(dang)測(ce),阻(zu)值也超過儀器(qi)測(ce)量范(fan)圍,很(hen)可能存(cun)在接觸**或(huo)有(you)(you)松動(dong)處,此(ci)時(shi)(shi)應(ying)慎重對待多測(ce)幾次。

調節兩(liang)標尺(chi)的(de)(de)位置,將t1標尺(chi)移至(zhi)A相(xiang)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)起點(dian)(即波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)開始下降(jiang)的(de)(de)點(dian)),t2標尺(chi)移至(zhi)A相(xiang)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)終點(dian)(即波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)*后向(xiang)上升起的(de)(de)拐(guai)點(dian)),此時(shi)顯(xian)示(shi)屏*左下方(fang)的(de)(de)Δt數(shu)值即為(wei)A相(xiang)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)過(guo)(guo)渡(du)(du)時(shi)間(jian)(jian),此時(shi)按(an)“確認”鍵彈(dan)出打印菜單(dan),即可選(xuan)擇打印A相(xiang)的(de)(de)過(guo)(guo)渡(du)(du)時(shi)間(jian)(jian);同理,根(gen)據B、C相(xiang)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)起點(dian)、終點(dian)調整兩(liang)標尺(chi)的(de)(de)位置,再分別打印出B、C相(xiang)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)過(guo)(guo)渡(du)(du)時(shi)間(jian)(jian)。確定時(shi)間(jian)(jian)的(de)(de)基本原則(ze)是:起始時(shi)間(jian)(jian)從(cong)曲(qu)線向(xiang)下的(de)(de)拐(guai)點(dian)開始;結(jie)束時(shi)間(jian)(jian)從(cong)曲(qu)線*后一個(ge)向(xiang)上的(de)(de)拐(guai)點(dian)終止

整個動(dong)作(zuo)過(guo)渡(du)時間為t1、t2、t3之和。三相有(you)載分接開(kai)關(guan)的切換不同期(qi),規程并沒有(you)明確規定(ding)。一(yi)(yi)般不大于5ms。但如果是(shi)一(yi)(yi)臺開(kai)關(guan)三相并聯當一(yi)(yi)相用,這臺開(kai)關(guan)的三相不同期(qi)一(yi)(yi)般要(yao)求2-3ms。可(ke)以(yi)按(an)下述方法測量(liang):假設測到一(yi)(yi)臺開(kai)關(guan)波形

可以(yi)先(xian)把t1標尺(chi)移(yi)到A相(xiang)(xiang)起(qi)始位(wei)(wei),再(zai)把t2標尺(chi)移(yi)到B相(xiang)(xiang)起(qi)始位(wei)(wei),此時(shi)(shi)顯示(shi)屏*左下(xia)的(de)Δt顯示(shi)的(de)為兩標尺(chi)間的(de)時(shi)(shi)間,也即A相(xiang)(xiang)比B相(xiang)(xiang)早(zao)的(de)時(shi)(shi)間,按(an)(an)“確認”鍵,彈(dan)出(chu)(chu)打(da)印菜(cai)(cai)單(dan),即可選擇打(da)印AB相(xiang)(xiang)不同期(qi)性,此時(shi)(shi)打(da)印的(de)數據即A相(xiang)(xiang)比B相(xiang)(xiang)早(zao)的(de)時(shi)(shi)間。同理(li)可測量打(da)印出(chu)(chu)BC相(xiang)(xiang)、AC相(xiang)(xiang)的(de)不同期(qi)性。(注:在(zai)波形(xing)分析菜(cai)(cai)單(dan)中(zhong),按(an)(an)“確認”鍵彈(dan)出(chu)(chu)打(da)印菜(cai)(cai)單(dan),在(zai)打(da)印菜(cai)(cai)單(dan)中(zhong)按(an)(an)“←→”鍵選擇要打(da)印的(de)選項,按(an)(an)“取消”鍵返回波形(xing)分析菜(cai)(cai)單(dan))。

?選擇進(jin)入“波形操(cao)作”菜單。在(zai)此菜單下可將波形放大、縮小(xiao)、移動(dong)。

?選擇(ze)進入“波形存(cun)儲(chu)”菜單(dan)


在此菜單下,可選擇(ze)(ze)將波形(xing)(xing)存(cun)(cun)儲(chu)至U盤或存(cun)(cun)儲(chu)至本機(ji)。存(cun)(cun)儲(chu)至U盤:可存(cun)(cun)儲(chu)100條(tiao)波形(xing)(xing),存(cun)(cun)儲(chu)位置(zhi)為(wei)00-99,可由用(yong)戶(hu)自(zi)行(xing)選擇(ze)(ze)(注:如(ru)兩次選擇(ze)(ze)的存(cun)(cun)儲(chu)位置(zhi)相同,則將上(shang)一次的存(cun)(cun)儲(chu)信息(xi)覆蓋掉)。存(cun)(cun)儲(chu)至本機(ji):可存(cun)(cun)儲(chu)64條(tiao)波形(xing)(xing),存(cun)(cun)儲(chu)位置(zhi)為(wei)00-63,存(cun)(cun)儲(chu)位置(zhi)由儀器自(zi)動指定,用(yong)戶(hu)不(bu)可修(xiu)改(注:存(cun)(cun)儲(chu)模式為(wei)循環(huan)存(cun)(cun)儲(chu),即存(cun)(cun)滿之后又從**條(tiao)開始存(cun)(cun)儲(chu))。

?選擇“波形(xing)打印”項,按(an)“確認”鍵開始進行波形(xing)打印。此(ci)時(shi)可將波形(xing)測(ce)量信息(xi)及動作(zuo)波形(xing)完全(quan)打印出來。

(2)無繞組測試方法

將(jiang)測試(shi)(shi)(shi)線黃、綠、紅測試(shi)(shi)(shi)鉗(qian)分(fen)(fen)別(bie)接(jie)到(dao)調(diao)壓開關X1(A1)、Y1(B1)、Z1(C1)上(shang)(shang),并(bing)用短(duan)路線分(fen)(fen)別(bie)接(jie)到(dao)對應(ying)的(de)X2(A2)、Y2(B2)、Z2(C2)上(shang)(shang),黑色(se)測試(shi)(shi)(shi)鉗(qian)接(jie)到(dao)中性點上(shang)(shang),測試(shi)(shi)(shi)線的(de)另(ling)一端分(fen)(fen)別(bie)接(jie)到(dao)儀器(qi)對應(ying)的(de)端子上(shang)(shang)。主菜單“參數設置”修(xiu)改測試(shi)(shi)(shi)方式為“無繞組(zu)”,其余操作步驟同有繞組(zu)測試(shi)(shi)(shi)步驟相(xiang)同。帶繞組(zu)測試(shi)(shi)(shi)與不帶繞組(zu)測試(shi)(shi)(shi)相(xiang)比較(jiao),前者的(de)動作時間長,約3-7 ms。

注意:A、B、C三相動觸頭短接(jie)后(hou)接(jie)到儀(yi)器(qi)的中性點接(jie)線端子上。

(3)調壓側繞組Y型(xing)接線(xian)中性點沒有引出的(de)變壓器的(de)測(ce)試方法

這種(zhong)結構的試品在不吊芯情況下,中性(xing)點無(wu)法(fa)(fa)引出,只好每兩(liang)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)一(yi)測(ce)(ce)(ce)試,例如測(ce)(ce)(ce)A、B兩(liang)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang),接(jie)線方(fang)法(fa)(fa)如圖12所示(shi),把(ba)C相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)當(dang)作(zuo)(zuo)(zuo)中性(xing)點, 操(cao)作(zuo)(zuo)(zuo)步(bu)驟和(he)帶繞(rao)組測(ce)(ce)(ce)試方(fang)法(fa)(fa)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)同,只是(shi)在液晶屏上一(yi)次只顯示(shi)兩(liang)組波形(xing)和(he)數據,數據的分(fen)析(xi)和(he)有中性(xing)點引出的變壓器的分(fen)析(xi)方(fang)法(fa)(fa)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)同,只是(shi)過渡電阻值需(xu)要換算:設測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)值為R’,實(shi)際(ji)值為R,則(ze)兩(liang)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時R=1/3R’(如單(dan)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)時則(ze)R=1/2R’)。待A、B相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)測(ce)(ce)(ce)完(wan)以后,可以再(zai)把(ba)A相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)當(dang)作(zuo)(zuo)(zuo)中性(xing)點,測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)B、C相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang),或者把(ba)B相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)當(dang)作(zuo)(zuo)(zuo)中性(xing)點,測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)A、C相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)。其接(jie)線方(fang)法(fa)(fa)和(he)數據分(fen)析(xi)均相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)同。

(4)調壓(ya)(ya)側(ce)繞組Δ型接線的變壓(ya)(ya)器(qi)的測試方(fang)法:

測(ce)試接(jie)線方法同圖12,操作步驟(zou)和(he)數據的分析同其它變壓(ya)器(qi)測(ce)試方法一樣,只是過渡電阻值需(xu)要(yao)換算:設測(ce)量值為R’ ,實際值為R,則兩相測(ce)量時(shi)R=R’,單相測(ce)量時(shi)R=3/2 R’。

5、測(ce)量開關(guan)靜(jing)態參數(shu)

可測(ce)量(liang)開關(guan)的靜(jing)態阻(zu)值(zhi)。選擇進入“測(ce)量(liang)開關(guan)靜(jing)態參數”菜單,待數值(zhi)穩定(ding)后按(an)“確(que)認”鍵鎖(suo)定(ding)數值(zhi),此時再按(an)“確(que)認”鍵打印出當(dang)前靜(jing)態電阻(zu)值(zhi)。

6、存儲(chu)波形(xing)查詢

可查詢(xun)(xun)(xun)(xun)存(cun)儲在U盤(pan)或本機的存(cun)儲波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)。選擇(ze)進(jin)入(ru)“存(cun)儲波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)查詢(xun)(xun)(xun)(xun)”菜(cai)單,此(ci)時按(an)(an)“←→”鍵(jian)(jian)選擇(ze)查詢(xun)(xun)(xun)(xun)對象為U盤(pan)或本機(在選擇(ze)“本機波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)查詢(xun)(xun)(xun)(xun)”時,儀器可自動(dong)顯示出當前的存(cun)儲位置有(you)無(wu)(wu)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)信息,選擇(ze)“U盤(pan)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)查詢(xun)(xun)(xun)(xun)”時無(wu)(wu)此(ci)功(gong)能),按(an)(an)“↑↓”鍵(jian)(jian)選擇(ze)要查詢(xun)(xun)(xun)(xun)對象的存(cun)儲編號,按(an)(an)“確認”鍵(jian)(jian)調(diao)出要查詢(xun)(xun)(xun)(xun)的波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)(如(ru)有(you)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing),則進(jin)入(ru)到圖7顯示的動(dong)作波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)菜(cai)單,如(ru)沒有(you)存(cun)儲信息,儀器給予提示)。

7、時鐘設置(zhi)

對儀器的時鐘(zhong)進行(xing)設置(zhi)。操作(zuo)方(fang)法(fa)和(he)“參數設置(zhi)”菜單類(lei)似。

8、通(tong)訊設置

儀(yi)器升級(ji)通(tong)訊用(備用,用戶(hu)不可(ke)操(cao)作(zuo))。

9、廠家設置

廠家對儀器進行必要的設置(用(yong)戶不可(ke)操作)。

10、裝(zhuang)置信息

介紹公司信(xin)息、公司網址及銷(xiao)售、服務電話。

七、常見波形(xing)分析

1.可以看出(chu),橋接前時間(jian)過長,已達50ms(是正常時間(jian)的(de)三倍),并(bing)且不止是一相,而是三相差不多。這是典型的(de)快(kuai)速機(ji)構儲能彈簧(huang)老化,速度變慢。

2.可(ke)以看到(dao)(dao)A相從(cong)(cong)單(dan)到(dao)(dao)雙(shuang)(3-4)和(he)雙(shuang)到(dao)(dao)單(dan)(4-3)有對稱的過(guo)零段,是在單(dan)數側,且過(guo)渡(du)電(dian)阻值從(cong)(cong)儀(yi)器上觀察遠(yuan)大于(yu)(yu)20Ω(對于(yu)(yu)0.5A檔超過(guo)20Ω可(ke)以看成(cheng)開路(lu))。這是典(dian)型的過(guo)渡(du)電(dian)阻缺陷(xian)。吊檢后發現單(dan)數側過(guo)渡(du)電(dian)阻已斷裂(lie)。

3.這個波形(xing)是由(you)(you)于開始測試(shi)時(shi),測試(shi)靈敏度(du)選的比較(jiao)高,又是由(you)(you)3-2方向(電感(gan)量增(zeng)加)容(rong)易引起震蕩。適(shi)當(dang)降低靈敏度(du)由(you)(you)1-n方向測試(shi)結果正常(chang)。

4.A相(xiang)波(bo)形(xing)較亂(luan),測出的過(guo)渡電(dian)阻值僅(jin)0.3-0.5Ω,而(er)且從1-7均如此。 吊檢發現(xian)A相(xiang)切換開關引出線軟連接有斷股,造成(cheng)A相(xiang)過(guo)渡電(dian)阻被短接(未接死)。現(xian)場處理后,波(bo)形(xing)正常。

八、儀(yi)器常見故障及(ji)原因

1.CPU板故障可能(neng)出現的波(bo)形

處理辦法:更(geng)換(huan)CPU板

                                     

2.儀器(qi)供電電壓(ya)過低(di)可(ke)能出現的波(bo)形


3.儀器自(zi)激振蕩可能出現的波形(xing)

處理辦法:試(shi)品充分放電(dian)后,由1-n方(fang)向測試(shi),非測試(shi)繞組良(liang)好(hao)的(de)短路接地(di);必要時調整(zheng)儀器的(de)測試(shi)靈敏度。

九、售后服務

1、凡購本公司產(chan)(chan)(chan)品隨機(ji)攜帶產(chan)(chan)(chan)品保修單,訂購產(chan)(chan)(chan)品交貨時,請當場檢驗并填(tian)好保修單。

2、自購機之日起,憑保(bao)修(xiu)(xiu)單保(bao)修(xiu)(xiu)二年(nian),終身維護(hu)。在保(bao)修(xiu)(xiu)期內(nei),維修(xiu)(xiu)不收維修(xiu)(xiu)費(fei);保(bao)修(xiu)(xiu)期外,維修(xiu)(xiu)調試(shi)收取適當費(fei)用。

3、屬(shu)下列(lie)情況之一者不予保修:

1)用戶對儀(yi)器(qi)有自行拆卸或(huo)對儀(yi)器(qi)工藝(yi)結(jie)構有人(ren)為改變。

2)因用(yong)(yong)戶保管或使用(yong)(yong)不當(dang)造成儀器的嚴重損壞。

3)屬于用戶其它原因造成的損(sun)壞。



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